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HORIBA光譜儀VS7000產(chǎn)品介紹
瀏覽次數(shù):832發(fā)布日期:2022-12-19

HORIBA集團(tuán)的全球公司為汽車(chē)研發(fā),工藝和環(huán)境監(jiān)測(cè),體外醫(yī)療診斷,半導(dǎo)體制造和計(jì)量,以及廣泛的科學(xué)研發(fā)和QC測(cè)量等應(yīng)用提供廣泛的儀器和系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的質(zhì)量和值得信賴(lài)的性能已經(jīng)為HORIBA品牌樹(shù)立了廣泛的信心。受到HORIBA座右銘“歡樂(lè)與樂(lè)趣"的啟發(fā),通過(guò)建立科學(xué)進(jìn)步產(chǎn)品來(lái)關(guān)注社會(huì)責(zé)任; 特別是為了保護(hù)健康,安全和環(huán)境?!癏ORIBARIANs"是世界各地的HORIBA員工,期待與您合作,并為您的需求提供的分析解決方案。

HORIBA主要產(chǎn)品:

拉曼光譜學(xué)

拉曼光譜儀、拉曼顯微鏡、臺(tái)式和便攜式拉曼、多模光譜成像系統(tǒng)、傳輸拉曼、模塊化和光纖耦合拉曼、三重拉曼光譜儀、OEM微型拉曼

拉曼-AFM和納米拉曼

拉曼成像

排放測(cè)量系統(tǒng)

機(jī)電一體化系統(tǒng)

半導(dǎo)體

質(zhì)量流量控制器、壓力控制器、液體源蒸發(fā)系統(tǒng)、等離子發(fā)射控制器、真空/氣體監(jiān)測(cè)儀、氣體發(fā)生器、化學(xué)濃度監(jiān)測(cè)儀、在線pH監(jiān)測(cè)儀、超純水監(jiān)測(cè)儀、粒子檢測(cè)系統(tǒng)、等離子過(guò)程監(jiān)控、自動(dòng)補(bǔ)充系統(tǒng)

光澤檢查器

溫度計(jì)

環(huán)境輻射監(jiān)測(cè)

氣體監(jiān)測(cè)(CEMS,流程)

周?chē)?/p>

水監(jiān)測(cè)

軟件

配件

主要型號(hào):

XploRA ONE、XploRA PLUS、XP Examina、LabRAM HR Evolution、XploRA INV、RA-TN02、RA 54、RA-TN01、T64000、ICP-AES、GD-Profiler、GD-Profiler HR、1911(F或G)、1912(F或G)、1913(F或G)、1914(F或G)、LSH系列、FL-1039、TLS-HP2、LabSPEC 5、CP20、CP21、CP140、VS140、Micro HR、TRIAX 180/190、Gemini-180、iHR320、iHR 550、FHR640、1000M、FHR 1000、1250M

概要:

      VS7000是一款高性能、低成本、小型化的光譜儀,配備了高量子效率的背照射CCD,擁有高達(dá)5600:1的動(dòng)態(tài)響應(yīng)范圍。標(biāo)配CCD具有90%的峰值量子效率、感光單元高300μm、無(wú)anti-blooming。同時(shí)HORIBA還提供具有更高動(dòng)態(tài)范圍(7000:1)、anti-blooming功能的CCD(另有1mm高可選)。

      VS7000非常適用于弱光測(cè)量的應(yīng)用,如熒光和諸多發(fā)射光譜。

特征:
高讀出速率
高量子效率
極低雜散光
三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)光譜范圍可選:
200-860 nm
380-750 nm
200-1050 nm
常用的光譜范圍:200-860nm(擁有優(yōu)異的峰型對(duì)稱(chēng))
讀出速率最快可達(dá)2.3 ms
低噪聲電路、高線性度和線性校正
該背照射線CCD具有市面上很高的量子效率:
65 % (250 nm)
>90 % ( 650 nm)
70 % (850 nm)
USB 2.0接口
二級(jí)衍射濾光片
兼容Windows采集軟件和LabView V.I.s

詳細(xì)參數(shù)

可選光譜范圍

UV-VIS
200-860nm
,配備250nm閃耀光柵,內(nèi)置二級(jí)衍射濾光片
VIS

380-750nm
,配備可見(jiàn)光區(qū)域優(yōu)化的光柵,內(nèi)置長(zhǎng)通濾光片
UV-NIR

200-1050nm
,配備雙閃耀波長(zhǎng)光柵,內(nèi)置二級(jí)衍射濾光片

數(shù)值孔徑

F/3

雜散光抑制比
典型(最大)

UV-VIS 0.04% (0.08%) 
注:在配備510nm寬帶濾光片和75μm狹縫時(shí)測(cè)試

CCD探測(cè)器典型量子效率

被照射CCDNIR波段超低etaloning 效應(yīng)
量子效率:65%250 nm - >90%650 nm- 70%850 nm

探測(cè)器高度和光纖直徑

CCD感光面高300 μm,另有直徑300 μm、1.5 m長(zhǎng)的光纖可選配

熱電穩(wěn)定性

必須扣除暗電流(CCD圖樣噪聲)
使用者需關(guān)閉光源或在光路上安裝快門(mén)
CCD
PDA探測(cè)器的量子效率會(huì)隨著溫度變化有微小變化

光譜分辨率
像素分辨率
狹縫(定制化)

光譜分辨率:2.6nm,在UV-VIS75 μm狹縫、1024像素CCD下測(cè)試
像素分辨率:0.65 nm /像素
(測(cè)量253nm/365nm/435nm/546nm/696nm/811nm處的分辨率后取平均值)
如需亞納米級(jí)的分辨率,可選擇12 μm  37 μm 狹縫
對(duì)于OEM應(yīng)用,另有定制化光柵和狹縫

CCD滿(mǎn)阱優(yōu)化
原始非線性度
校正后非線性度

168 Ke-(對(duì)1024像元CCD線性校正后測(cè)試)
原始非線性度:<2.5%
校正后非線性度:<0.6%
非線性度說(shuō)明:偏離直線最大最小值之差除以65000

典型讀出速度

4.45 ms1 MHz模式)225 光譜/s,0曝光時(shí)間(多道采集模式)

最大讀出速度

2.35 ms(超快模式)425光譜/s,0曝光時(shí)間(多道采集模式)

積分時(shí)間

1 μs(包括讀出時(shí)間)至 5-10s(參考上述讀出速度限制)
當(dāng)曝光時(shí)間達(dá)數(shù)秒,需考慮增加暗噪聲平方根(暗電流)

典型暗電流

4 count/ms(最高9 counts/ms),在20℃室溫,1MHz模式下 
典型的偏移: 1000 counts

典型讀出噪聲

1MHz模式下30 e-最高35 e-

A/D 轉(zhuǎn)換速度

1MHz模式下16 bit

典型的動(dòng)態(tài)范圍

1MHz模式下5600:1(低速模式下可達(dá)到更大動(dòng)態(tài)響應(yīng)范圍)

典型性噪比

405:1 (當(dāng)起伏噪聲為限制因素時(shí),取滿(mǎn)阱平方根)

增益

2.5 e-/count

標(biāo)準(zhǔn)

CE  RoHS

尺寸

長(zhǎng)4.9 x 3.9 x 2.9 英寸 (124.5 x 99 x 74 mm)
(
對(duì)OEM特殊需求,請(qǐng)與我們聯(lián)系)